摘要: <正> 第五届国际二次离子质谱会议于1985年9月29日至10月4日在美国华盛顿假日饭店召开。会议共接受论文165篇,其中我国的论文两篇,代名一名。 开幕式上,大会名誉主席R.F.Herzog(美国南密西西比大学,M-H型双聚焦质谱仪设计者之一)和国际组委会主席A.Benninghoven(西德明斯特大学)讲了话,RichardE.Honig(美国RCA公司)作了SIMS的历史回顾。