摘要: <正> 一、前言 六十年代初,为实现国家科学技术十二年发展规划,要求对半导体材料、高纯金属及高纯物质进行研制和测定,并要建立有关的生产厂,这就迫切需要采用火花源质谱法进行检测。当时外国对我封锁禁运,只有依靠自己的力量去完成这一历史使命。为此,早在1964年,我国就着手火花源双聚焦质谱仪的研制工作。按照用户要求,中科院科仪厂经过全国性的重点调查,于1965年开始自行研制,此后上海冶金所和上海电光所也相继研制,进行了小批量生产,仪器灵度达到10~(-7)～10~(-8),初步满足了当时的急需。